干涉儀
Get Refined RecordsMETADATA
Field | Value |
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rdf:type | data:Reused, r4r:RRObject, dcat:Dataset |
r4r:locateAt | http://data.odw.tw/record/d6263981 |
dcat:themeTaxonomy | data:Artifacts |
dc:date | 使用年代: 民國50年 |
dc:description | 干涉儀是非接觸式量測,可用來量測平面與球面光學元件的表面精度與曲率半徑,為量測光學元件重要的儀器之一。 |
dc:format |
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dc:identifier | 識別碼: 18-08_MG_4934 |
dc:publisher | 數位化執行單位: 國防大學理工學院珍稀測量儀器數位典藏計畫 |
dc:rights | 國防大學理工學院 |
dc:subject | 干涉儀、儀器校正 |
dc:title | 干涉儀 |
dc:type | 型式: 實體物件 |
r4r:hasProvenance | http://data.odw.tw/record/p20160530-d6263981 |